METROLOGÍA INDUSTRIAL ÓPTICA

Las máquinas de medición ÓPTICAS Scienscope están diseñadas específicamente para la medición sin contacto y la inspección de pequeñas características complejas, sea en piezas pequeñas o grandes. Los sistemas de medición Scienscope Metrology ofrecen una construcción de base de granito y proporcionan una precisión y confiabilidad a largo plazo.

Mesas de trabajo opcional.

SISTEMAS DE MEDICION MANUAL Scienscope XT-SVM series


Contamos con 5 modelos de esta serie para 4 rangos de medición.

Las características generales de estos equipos son:

  • Base y columna de granito de precisión
  • Escalas de cinta con resolución de 1/2 (0.5) micras
  • Cámara a color de 1/2 ”y 1.3 megapíxeles
  • Monitor LCD de pantalla ancha de 23 «
  • Lente de zoom con sensor de retención de aumento
  • Bloqueo rápido / liberación X / Y Stage
  • Controlado por software Quad LED Top Light
  • Luz de fondo LED colimada controlada por software
  • Posición verdadera, GDT y tolerancia, informes
  • Ventana de diseño CAD, capacidad DXF
  • Pantalla de imagen en vivo
  • Anotación y captura de video para archivar y documentar piezas
  • Todas las funciones geométricas (círculo, arco, ángulo, distancia, etc.)
  • Calibración de ampliación de imagen
  • Software de medición: MetLogix M3
  • Ampliación estándar: 25x – 158x / Capaz de hasta 316x
  • Iluminación: luz superior LED cuádruple y luz de fondo LED colimada
  • Cámara: 1/2 «Color USB 1.3 Mega Pixel
  • Fuente de alimentación: 110v – 220v ± 5% 50/60 Hz

XT-SVM-M44

XT-SVM-M44 MANUAL XY

Este modelo proporciona una plataforma liviana rentable para una variedad de aplicaciones. Es compacto, económico y confiable en mediciones precisas durante su proceso de inspección. No es necesario comprar ningún software de medición para operar este sistema porque el software de medición Metlogix M3 se incluye para su conveniencia. Prácticamente libre de mantenimiento.

  • Rango de medición: 4 «x 4» x 4 «
  • Base y columna de granito de precisión
  • Resolución del sistema: 1 µm
  • Precisión (X / Y) a 20 ° C: (3 + L / 200) µm, L en mm
  • Repetibilidad: ± 1 µm

XT-SVM-M88

XT-SVM-M88 MANUAL XY

Con una plataforma liviana más grande y rentable para una variedad de aplicaciones, el M88 conserva las características del M44 pero tiene un recorrido de escenario más grande de 8 «x 8» x 4 «(200 mm x 200 mm x 100 mm). Por su tamaño compacto, lo hace prácticamente libre de mantenimiento y el precio es inmejorable. El software de medición Metlogix M3 se incluye con este sistema.

  • Rango de medición: 8 » x 8″ x 4 » (200 mm x 200 mm x 100 mm).
  • Base y columna de granito de precisión
  • Resolución del sistema: 1 µm
  • Precisión (X / Y) a 20 ° C: (3 + L / 200) µm, L en mm
  • Repetibilidad: ± 1 µm

xt-svm-m106

XT-SVM-M106 MANUAL XYZ

Con una plataforma liviana más grande y rentable para una variedad de aplicaciones, el M106 presenta un gran recorrido de escenario de 10 «x 6» x 8 «(250x150x200mm). La plataforma y la base son de granito y, sin embargo, el sistema conserva una pequeña huella. Nuestro sistema de medición manual XT-SVM-M106 es prácticamente libre de mantenimiento y el precio es inmejorable.

  • Rango de medición: 10″ x 6″ x 8″ (250x150x200mm).
  • La plataforma y la base son de granito de precisión.
  • Resolución del sistema: 1 µm
  • Precisión (X / Y) a 20 ° C: (3 + L / 200) µm, L en mm
  • Repetibilidad: ± 1 µm

XT-SVM-M1410

XT-SVM-M1410 MANUAL XYZ

El sistema de medición manual M1410 proporciona la plataforma rentable más grande para una variedad de aplicaciones. Este ofrece una gran plataforma de viaje de 14 «x 10» x 8 «(350x250x200mm). La plataforma, la columna y la base son de granito para brindar estabilidad y resistencia térmica. Prácticamente libre de mantenimiento, el precio es inmejorable.

  • Rango de medición: 14″ x 10″ x 8″ (350x250x200mm).
  • La plataforma, la columna y la base son de granito para mayor estabilidad térmica y resistencia.
  • Resolución del sistema: 1 µm
  • Precisión (X / Y) a 20 ° C: (3 + L / 200) µm, L en mm
  • Repetibilidad: ± 1 µm

METROLOGÍA INDUSTRIAL POR COORDENADAS CMM


La inspección digital, automatizada y conectada permite un control completo del proceso desde el diseño hasta la fabricación.

Los equipos de medición dimensional ópticos o multisensor se componen principalmente de, una máquina de medición por coordenadas, un software con una excelente ingeniería y un servicio de asistencia técnica al cliente.

El desarrollo tecnológico en los campos de la óptica y de software especializado, han permito mejorar sustancialmente los procesos de medición y control de calidad en las industrias más exigentes, contando con niveles de precisión micrométricos, aún para piezas de muy diversas configuraciones y materiales.

Desde herramientas manuales hasta soluciones automatizadas, máquinas de medición por coordenadas (MMCs) hasta brazos de medición portátil, láser trackers y escáneres ópticos, GOLTECH ofrece sistemas de metrología industrial cuando la medición dimensional es importante.

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